浙江大学金华研究院工业级存储芯片高速测试平台正式启动

5月9日上午，我院工业级存储芯片高速测试平台启动仪式在信息技术创新中心举行。

金东区科技局局长曹锦，浙江大学杭州国际科创中心主任、我院副院长杨建义，我院副院长徐新民，信息技术创新中心执行主任单国峰，浙江大学绍兴研究院微电子中心副主任王曰海，工业级存储芯片高速测试平台主任、浙江省半导体行业协会副理事长兼秘书长丁勇，以及来自复旦大学、宁波大学、西安电子科技大学、浙江大学医学院、浙江省半导体行业协会、杭州国家芯火双创基地（平台）、杭州国家集成电路设计产业化基地的领导、专家出席启动仪式。

启动仪式上，曹锦、杨建义、徐新民、丁勇共同为工业级存储芯片高速测试平台揭幕。

杭州国家芯火双创基地(平台)主任陈丽霞、我院特聘研究员薛晓勇共同为杭州国家芯火双创平台金华测试中心、面向半导体芯片产业技术基础公共服务平台存储测试基地揭牌。

杭州国家集成电路设计产业化基地主任任佳莹、我院特聘研究员张跃军共同为杭州国家集成电路设计产业化基地存储器芯片测试平台、浙江省集成电路设计与测试产业创新服务综合体存储器芯片测试基地揭牌。

丁勇、单国峰共同为浙江省半导体行业协会金华联络处、浙江省半导体行业协会会员单位揭牌。

薛晓勇、张跃军共同为嘉普半导体揭牌。

启动仪式结束后，与会领导和嘉宾实地参观了工业级存储芯片高速测试平台，并与团队成员进行了深入交流。

平台介绍：

工业级存储芯片高速测试平台是浙江大学金华研究院信息技术创新中心面向先进存储的产业需求而建设的专业化存储芯片测试平台。随着信息化时代的到来，数据的存储至关重要，浙江作为全球数字安防产业中心、云计算与数据中心产业强省，具备发展存储器相关产业的天然优势。浙江大学金华研究院信息技术创新中心基于国产化测试装备，构建规模化、专业化的工业级存储器高速测试平台，为汽车电子、人工智能、数据中心、智能安防、消费电子等应用领域的存储芯片产品及测试装备提供概念验证、测试方案评估、数据模型分析、测试程序开发和芯片终测等专业化服务，实现错位竞争，推动芯片产业和信创产业的发展。

文稿丨水盈盈

一审丨毛   俊

二审丨单国峰

终审丨徐新民